1. Compatibility and testing of electronic components
پدیدآورنده : [by] C.E. Jowett.
کتابخانه: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
موضوع : Integrated circuits-- Testing.
رده :
TK7874
.
J67
1972
2. Electronic engineering processes
پدیدآورنده : / C. E. Jowett
کتابخانه: Central Library and Archive Center of shahid Beheshti University (Tehran)
موضوع : Electronic apparatus and appliances,Electronic industries
رده :
621
.
381
Jo-E
3. Electronic engineering processes
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
کتابخانه: Central Library of Sharif University of Technology (Tehran)
موضوع : ، Electronic apparatus and appliances,، Electronic industries
رده :
TK
7871
.
J67
4. Electronics and environments
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
موضوع : ، Electronic apparatus and appliances-- Reliability,، Electronic industries-- Quality control
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
5. Electronics and environments
پدیدآورنده : / C. E. Jowett
کتابخانه: Central Library and Archive Center of shahid Beheshti University (Tehran)
موضوع : Electronic apparatus and appliances - Reliability,Electronic industries - Quality control
رده :
621
.
381023
Jo-E
6. Materials in electronics
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
کتابخانه: Central Library of Sharif University of Technology (Tehran)
موضوع : ، Electronics-- Materials
رده :
TK
7871
.
J68
7. Materials in electronics
پدیدآورنده : / C. E. Jowett
کتابخانه: University of Tabriz Library, Documentation and Publication Center (East Azarbaijan)
موضوع : Electronics - Materials
رده :
TK7871
.
J68
8. Reliability of electronic components
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
کتابخانه: Central Library of Sharif University of Technology (Tehran)
موضوع : ، Electronic apparatus and appliances-- Reliability
رده :
TK
7870
.
J67
9. Semiconductor devices; testing and evaluation
پدیدآورنده : / C. E. Jowett
کتابخانه: Central Library and Archive Center of shahid Beheshti University (Tehran)
موضوع : Semiconductors - Testing
رده :
621
.
38152
Jo-S
10. Semiconductor devices : testing and evaluation
پدیدآورنده : Jowett, C. E, Charles Eric
کتابخانه: Central Library of Sharif University of Technology (Tehran)
موضوع : ، Semiconductors-- Testing
رده :
TK
7871
.
85
.
J68
11. The engineering of microelectronic thin and thick films
پدیدآورنده : Jowett, Charles Eric
کتابخانه: Central Library and Documents Center of Al-Zahra University (Tehran)
موضوع : ، Thin-films,، Microelectronics
رده :
TK
7871
.
15
.
F5J6
